Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля
Д. Брандон, У. Каплан
Первый учебник на русском языке по современным методам исследования и материаловедения.
Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов.
(реклама в файл не вставлена, поэтому страниц не 384, а 377)
Описаны рентгеновские методы анализа, физические основы оптической и электронной микроскопии.
Книга адресована широкому кругу ученых, инженеров, студентов.
(реклама в файл не вставлена, поэтому страниц не 384, а 377)
კატეგორია:
წელი:
2004
გამომცემლობა:
Техносфера
ენა:
russian
გვერდები:
380
ISBN 10:
5948360180
ISBN 13:
9785948360188
ფაილი:
DJVU, 13.43 MB
IPFS:
,
russian, 2004
Litres
გსურთ დაამატოთ წიგნის მაღაზია? დაგვიკავშირდით support@z-lib.do-ით
ფაილების კონვერტაცია
ძიების მეტი შედეგი
სხვა უპირატესობები 
